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陶瓷介質(zhì)損耗因數(shù)測試儀印電路板主要由玻纖與環(huán)氧樹脂組成的, 玻纖介電常數(shù)為5~6, 樹脂大約是3, 由于樹脂含量, 硬化程度, 溶劑殘留等因素會造成介電特性的偏差, 傳統(tǒng)測量方法樣品制作不易, 尤其是薄膜樣品（ 小于 10 mil） 量測值偏低

薄膜塑料介電常數(shù)測試儀在較高的頻率下，只要電介質(zhì)中不出現(xiàn)局部放電，電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)與電場強度無關(guān).

國標GBT1409介質(zhì)損耗測試儀陶瓷材料的損耗 陶瓷材料的介質(zhì)損耗主要來源于電導(dǎo)損耗、松弛質(zhì)點的極化損耗和結(jié)構(gòu)損耗。此外，表面氣孔吸附水分、油污及灰塵等造成的表面電導(dǎo)也會引起較大的損耗。 在結(jié)構(gòu)緊密的陶瓷中，介質(zhì)損耗主要來源于玻璃相。為了改善某些陶瓷的工藝性能，往往在配方中引人此易熔物質(zhì)（如黏土），形成玻璃相，這樣就使損耗增大。如滑石瓷、尖晶石瓷隨黏土含量增大，介質(zhì)損耗也增大。

涂層介質(zhì)損耗因數(shù)測試儀計算公式 Cx=R4× Cn / R3 R4[Ω] R3[Ω] Cn[pF] Cx[pF] tgδ=ω·R4·C4 R4[Ω] C4[F] 當(dāng)R4=10K/π tgδ=C4 當(dāng)R4=1K/π tgδ=0.1C4

北廣變壓器油介損測試儀產(chǎn)品嚴格貫徹：ISO、AATCC、ASTM、DIN、EN、GB、BS、JIS、ANSI、UL、TAPPI、IEC、VDE等標準，廣泛適用于：科研單位、質(zhì)檢機構(gòu)、大專院校以及家具，紡織、玩具、橡膠、塑料、制鞋、皮革、包裝、航空等產(chǎn)業(yè)，為材料開發(fā)、物性試驗、教學(xué)研究、品質(zhì)管理、進料檢驗等提供的數(shù)據(jù)。