100MHZ高頻介電常數(shù)測試儀介質損耗和介電常數(shù)是各種電瓷、裝置瓷、電容器等陶瓷，還有復合材料等的一項重要的物理性質，通過測定介質損耗角正切tanδ及介電常數(shù)（ε），可進一步了解影響介質損耗和介電常數(shù)的各種因素，為提高材料的性能提供依據(jù)；儀器的基本原理是采用高頻諧振法，并提供了，通用、多用途、多量程的阻抗測試。它以單片計算機作為儀器的控制，測量核心采用了頻率數(shù)字鎖定，標準頻率測試點自動設定，諧振點自動搜索，Q值量程自動轉換，數(shù)值顯示等新技術，改進了調諧回路，使得調諧測試回路的殘余電感減，并保留了原Q表中自動穩(wěn)幅等技術，使得新儀器在使用時更為方便。儀器能在較高的測試頻率條件下，測量高頻電感或諧振回路的Q值，電感器的電感量和分布電容量，電容器的電容量和損耗角正切值，電工材料的高頻介質損耗，高頻回路有效并聯(lián)及串聯(lián)電阻，傳輸線的特性阻抗等。

100MHZ高頻介電常數(shù)測試儀電極規(guī)格

固體：材料測量直徑Φ38mm 可選；厚度可調 ≥ 15mm 

液體：測量極片直徑 Φ38mm； 液體杯內(nèi)徑Φ48mm 、深7mm（選配）

粉體：測量極片直徑 Φ38mm； 液體杯內(nèi)徑Φ48mm 、深7mm（選配）

試樣要求：固體樣品厚度要求：0.5-15MM

產(chǎn)品配置：

   1、測試主機：一臺

   2、測試電感：9個

   3、測試夾具：1套

其它規(guī)格：

 1、  環(huán)境溫度：0℃～+40℃；                                            

2、相對濕度：<80％；  

3、電源：220V±22V，50Hz±2.5Hz。

4、消耗功率：約25W；  

5、凈重：約7kg；  

6、外型尺寸：（長寬高）：380×280×132（mm）

4． 自動掃描被測件諧振點，標頻單鍵設置和鎖定，大大提高測試速度1．Q值測量
a．Q值測量范圍：2～1023。
b．Q值量程分檔：30、100、300、1000、自動換檔或手動換檔。
c．標稱誤差
頻率范圍20kHz～10MHz；
固有誤差5％滿度值的2％；
工作誤差7％滿度值的2％；
頻率范圍10MHz～60MHz；
固有誤差6％;滿度值的2％；
工作誤差8％;滿度值的2％。
2．電感測量范圍：14.5nH~8.14H
3．電容測量：1~ 460
直接測量范圍1～460pF
主電容調節(jié)范圍30～500pF150pF以下±1.5pF；
準確度150pF以上±1％
注：大于直接測量范圍的電容測量見使用規(guī)則
4．信號源頻率覆蓋范圍
頻率范圍10kHz～50MHz
頻率分段（虛擬）
10～99.9999kHz
100～999.999kHz
1～9.99999MHz
10～60MHz
頻率指示誤差3times;10-5plusmn;1個字

陶瓷材料的介質損耗主要來源于電導損耗、松弛質點的極化損耗和結構損耗。此外，表面氣孔吸附水分、油污及灰塵等造成的表面電導也會引起較大的損耗。

在結構緊密的陶瓷中，介質損耗主要來源于玻璃相。為了改善某些陶瓷的工藝性能，往往在配方中引人此易熔物質（如黏土），形成玻璃相，這樣就使損耗增大。如滑石瓷、尖晶石瓷隨黏土含量增大，介質損耗也增大。因面一般高頻瓷，如氧化鋁瓷、金紅石等很少含有玻璃相。大多數(shù)電陶瓷的離子松弛極化損耗較大，主要的原因是：主晶相結構松散，生成了缺固濟體、多品型轉變等。

漏導損耗

實際使用中的絕緣材料都不是完善的理想的電介質，在外電場的作用下，總有一些帶電粒子會發(fā)生移動而引起微弱的電流，這種微小電流稱為漏導電流，漏導電流流經(jīng)介質時使介質發(fā)熱而損耗了電能。這種因電導而引起的介質損耗稱為“漏導損耗”。由于實阿的電介質總存在一些缺陷，或多或少存在一些帶電粒子或空位，因此介質不論在直流電場或交變電場作用下都會發(fā)生漏導損耗。

介質損耗：絕緣材料在電場作用下，由于介質電導和介質極化的滯后效應，在其內(nèi)部引起的能量損耗。也叫介質損失，簡稱介損。在交變電場作用下，電介質內(nèi)流過的電流相量和電壓相量之間的夾角（功率因數(shù)角Φ）的余角δ稱為介質損耗角。

常用的檢測方法標準有：GB/T 1409 測量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻（包括米波波長在內(nèi)）下電容率和介質損耗因數(shù)的推薦方法
GB/T 1693 硫化橡膠 介電常數(shù)和介質損耗角正切值的測定方法
GB/T 21216 絕緣液體 測量電導和電容確定介質損耗因數(shù)的試驗方法
ASTM D150 固體電絕緣材料的交流損耗特性及介電常數(shù)的試驗方法