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四探針電阻率檢測(cè)儀
簡(jiǎn)要描述：四探針電阻率檢測(cè)儀雙電組合測(cè)試方法：利用電流探針、電壓探針的變換，進(jìn)行兩次電測(cè)量，對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行雙電測(cè)分析，解決樣品幾何尺寸、邊界效應(yīng)以及探針不等距和機(jī)械游移等因素對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響，適用于斜置式四探針對(duì)于微區(qū)的測(cè)試。
更新時(shí)間：2024-07-14
產(chǎn)品型號(hào)：BEST-300C
廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家
訪問(wèn)量：1622
| 品牌 | 北廣精儀 | 產(chǎn)地類(lèi)別 | 國(guó)產(chǎn) |
|---|---|---|---|
| 類(lèi)型 | 數(shù)字式電阻測(cè)試儀 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 化工,農(nóng)業(yè),文體,能源,建材 |
| 電阻率： | 1×10-6～2×106Ω.cm | 電???阻： | 1×10-5～2×105Ω |
| 電導(dǎo)率： | 5×10-6～1×108ms/cm | 分辨率： | 最小1μΩ |
| 測(cè)量誤差 | ±5% | 測(cè)量電壓量程： | 2mV 20mV 200mV 2V |
| 測(cè)量精度 | ±（0.1%讀數(shù)） | 電流輸出： | 直流電流 0～1000mA 連續(xù)可調(diào)，由交流電源供 |
| 量程： | 1μA，10μA，100μA，1mA，10mA，100 | 誤差： | ±0.2%讀數(shù)±2字 |
| 主機(jī)外形尺寸： | 330mm*350mm*110mm |
四探針電阻率檢測(cè)儀步驟及流程
1. 開(kāi)啟電源，預(yù)熱5分鐘.
2. 裝配好探頭和測(cè)試平臺(tái).
3. 設(shè)定所需參數(shù).
4. 測(cè)量樣品
5. 導(dǎo)出數(shù)據(jù).
優(yōu)點(diǎn)描述：
1. 自動(dòng)量程
2. 雙電組合測(cè)試方法
3. 標(biāo)準(zhǔn)電阻校準(zhǔn)儀器
4. PC軟件運(yùn)行
5. 同時(shí)顯示電阻、電阻率、電導(dǎo)率數(shù)據(jù).
6. 可顯示5位有效數(shù)字.
7. 中、英文界面
四探針電阻率檢測(cè)儀適用范圍：
1.覆蓋膜;導(dǎo)電高分子膜，高、低溫電熱膜;隔熱、導(dǎo)電窗膜 導(dǎo)電(屏蔽)布、裝飾膜、裝飾紙;金屬化標(biāo)簽、合金類(lèi)箔膜;熔煉、燒結(jié)、濺射、涂覆、涂布層，電阻式、電容式觸屏薄膜;電極涂料，其他半導(dǎo)體材料、薄膜材料方阻測(cè)試
2.硅晶塊、晶片電阻率及擴(kuò)散層、外延層、ITO導(dǎo)電箔膜、導(dǎo)電橡膠等材料方塊電阻 半導(dǎo)體材料/晶圓、太陽(yáng)能電池、電子元器件，導(dǎo)電薄膜（ITO導(dǎo)電膜玻璃等），金屬膜，導(dǎo)電漆膜，蒸發(fā)鋁膜，PCB銅箔膜，
3.EMI涂層等物質(zhì)的薄層電阻與電阻率 導(dǎo)電性油漆，導(dǎo)電性糊狀物，導(dǎo)電性塑料，導(dǎo)電性橡膠，導(dǎo)電性薄膜，金屬薄膜，
4.抗靜電材料， EMI 防護(hù)材料，導(dǎo)電性纖維，導(dǎo)電性陶瓷等
參照標(biāo)準(zhǔn)：
1.硅片電阻率測(cè)量的標(biāo)準(zhǔn)（ASTM F84）.
2.GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測(cè)定方法》.
3.GB/T 1551-1995《硅、鍺單晶電阻率測(cè)定直流兩探針?lè)ā?
4.GB/T 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測(cè)定直流四探針?lè)ā?/span>
一般目前的四探針電阻率（電導(dǎo)率）測(cè)試儀均已配置厚度的修正，通過(guò)厚度數(shù)值的設(shè)置，計(jì)算出不同的樣品厚度對(duì)電阻率的影響。數(shù)字式四探針測(cè)試儀是運(yùn)用四探針測(cè)量原理的多用途綜合測(cè)量裝置，zui常用的是直線型四探針。四根探針的針尖在同一直線上，并且間距相等，都是S，一般采用0.5mm的間距，不同的探針間距需要對(duì)測(cè)量結(jié)果做相應(yīng)的校正。可以測(cè)量片狀、塊狀半導(dǎo)體材料的電阻率，擴(kuò)散層的薄層電阻（亦稱(chēng)方塊電阻）。也可測(cè)柔性導(dǎo)電薄膜和玻璃等硬基底上導(dǎo)電膜的方塊電阻（簡(jiǎn)稱(chēng)方阻），換上四端子測(cè)試夾具，還可對(duì)電阻器體電阻、金屬導(dǎo)體的低、中值電阻以及開(kāi)關(guān)類(lèi)接觸電阻進(jìn)行測(cè)量。
儀器所有參數(shù)設(shè)定、功能轉(zhuǎn)換全部采用數(shù)字化鍵盤(pán)輸入；具有零位、滿度自校功能；自動(dòng)轉(zhuǎn)換量程；測(cè)試探頭采用寶石導(dǎo)向軸套和高耐磨碳化鎢探針制成，故定位準(zhǔn)確、游移率小、壽命長(zhǎng)；測(cè)試結(jié)果由數(shù)字表頭直接顯示。在計(jì)算機(jī)控制下進(jìn)行兩次電測(cè)量，能自動(dòng)消除樣品幾何尺寸、邊界效應(yīng)以及探針不等距和機(jī)械游移等因素對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響。因而每次測(cè)量不必知道探針間距、樣品尺寸及探針在樣品表面上的位置。由于每次測(cè)量都是對(duì)幾何因素的影響進(jìn)行動(dòng)態(tài)的自動(dòng)修正，測(cè)試程序控制四探針測(cè)試儀進(jìn)行測(cè)量并采集測(cè)試數(shù)據(jù)，把采集到的數(shù)據(jù)在計(jì)算機(jī)中加以分析，然后把測(cè)試數(shù)據(jù)以表格，圖形直觀地記錄、顯示出來(lái)。
產(chǎn)品特點(diǎn)：
四探針：一次測(cè)量，顯示完整電阻率值。
采用了*的恒流源技術(shù)，能夠滿足寬范圍的電阻率測(cè)試要求
電阻率測(cè)量：大屏幕清晰顯示硅料電阻率值，方便檢料工快速分選
電流測(cè)量：本儀器采用*芯片技術(shù)，可通過(guò)調(diào)節(jié)硅材料厚度，儀器可直接鎖定電流，使測(cè)量使用更加簡(jiǎn)便準(zhǔn)確，本儀器可根據(jù)需要配備測(cè)試平臺(tái)， 利用測(cè)試平臺(tái)可以測(cè)試薄片電阻率
注意事項(xiàng)：
1、儀器不使用時(shí)請(qǐng)切斷電源，連接線無(wú)需經(jīng)常拔下，避免灰塵進(jìn)入航空插引起短接等現(xiàn)象，
2、探針筆測(cè)試結(jié)束，套好護(hù)套，避免人為斷針
3、儀器操作前請(qǐng)您仔細(xì)閱讀使用說(shuō)明書(shū)，規(guī)范操作
4、輕拿輕放，避免儀器震動(dòng)，水平放置，垂直測(cè)量
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